產品名稱：時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀
產品型號：TT230
更新時間：2024-11-27
產品特點：TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量，比如鋁上的氧化膜，所以也叫膜厚儀，膜厚測量儀；TT230是時代集團早先推出的成熟型測厚儀型號之一，無錫君達儀器優(yōu)惠價格2450.00供應TT230。
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀的詳細資料：
TT230時代渦流涂層測厚儀
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量，比如鋁上的氧化膜，所以也叫膜厚儀，膜厚測量儀；TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀是時代集團早先推出的成熟型測厚儀型號之一，無錫君達儀器優(yōu)惠價格2450.00供應TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀。
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
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TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀符合以下標準：
GB/T 4957-1985 渦流方法
JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀功能特點
采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內的所有數據
設有五個統(tǒng)計量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
具有米、英制轉換功能
具有打印功能，可打印測量值、統(tǒng)計值
具有欠壓指示功能
操作過程有蜂鳴聲提示
具有錯誤提示功能
具有自動關機功能
TT230時代渦流涂層測厚儀|氧化膜測厚儀技術參數
測頭類型：N
測量原理：電渦流
測量范圍： 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力：1µm(10um以下為0.1um)
探頭連接方式：一體化
示值誤差：
一點校準(um)：±[3%H+1.5]
兩點校準(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
測量條件：
zui小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
基體zui小面積的直徑(mm)：ф5
zui小臨界厚度(mm)：0.3
溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
統(tǒng)計功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
上下限設置：無
存儲能力：15個測量值
打印/連接計算機：可選配打印機/能連接電腦
關機方式：自動
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池
外形尺寸：150×55.5×23mm
重量：150g
TT230涂層測厚儀基本配置
TT230涂層測厚儀主機
鋁基體
標準片一套
充電器
使用說明書
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